🔖
Bu Makaleye Atıf Yap
ATICI, Y. (1995). Characterization of planar defects in SiGe/Si by TEM. Turkish Journal of Physics, Cilt: 19 - Sayı: 5, 712–717. https://ajindex.com/articles/379411
Dergiler / Turkish Journal of Physics / 1995 / Cilt: 19 - Sayı: 5
Characterization of planar defects in SiGe/Si by TEM
- Sayfa
- 712–717
- DOI
- —
🏛️Bu makalenin bibliyografik verileri ve tam metin bağlantısı DergiPark üzerinden sağlanmıştır.
DergiPark Kaydı ↗