SavedAdd your journal

Journals / Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi / 2017 / Cilt: 21 - Sayı: 1

Dereceli ve Derecesiz InXGa1‐XN Güneş Hücresi Yapılarındaki Mozaik Kusurların Analizi

Analysis of the Mosaic Defects in Graded and Non Graded InxGa1‐xN Solar Cell Structures

İLKNUR KARS DURUKAN
Mustafa Kemal ÖZTÜRK
Süleyman ÖZÇELİK
EKMEL ÖZBAY
Pages
235–240
DOI
—
🏛️Bibliographic metadata and full text access for this article are provided via DergiPark.
DergiPark Record ↗
✨

AI Summary & Key Takeaways

AI Insight
⚡ TL;DR(Too Long; Didn't Read)

JV ölçümlerinden ise dereceli yapının performansının daha yüksek olduğu belirlendi.

📌 3 Key Takeaways

🎯
Objective & Hypothesis:Bu çalışmada, dereceli InxGa1‐xN (A) (10.5 ≤ x ≤ 18.4) ve derecesiz (B) InxGa1‐ xN (13.6 ≤ x ≤ 24.9) örnekleri c yönelimli safir alttaş üzerine Metal Organik Kimyasal Buhar Biriktirme Tekniği ile büyütüldü.
📊
Key Findings & Data:XRD sonuçlarına göre dereceli InGaN yapısı düşük FWHM değerlerine sahiptir.
💡
Conclusion & Impact:JV ölçümlerinden ise dereceli yapının performansının daha yüksek olduğu belirlendi.
🔬Design:Research Article
📍Scope:Comprehensive Sample
⚙️Variables:Domain Parameters

Abstract

Bu çalışmada, dereceli InxGa1‐xN (A) (10.5 ≤ x ≤ 18.4) ve derecesiz (B) InxGa1‐ xN (13.6 ≤ x ≤ 24.9) örnekleri c yönelimli safir alttaş üzerine Metal Organik Kimyasal Buhar Biriktirme Tekniği ile büyütüldü. InGaN/GaN güneş hücresi yapıları Yüksek Çözünürlüklü X‐Ray Kırınım(HRXRD), Fotolüminesans (PL) ve Ultraviyole (UV), Akım yoğunluğu ve potansiyel ölçümleri (JV) ile analiz edildi. XRD sonuçlarına göre dereceli InGaN yapısı düşük FWHM değerlerine sahiptir. PL ölçümlerinde ise dereceli yapıdaki GaN’ın ortalama yarıgenişlik değeri daha dar ve InGaN’ ın pik genişliği dereceli yapı olması nedeniyle daha geniştir. UV ölçümlerinden dereceli yapının genişleyen bant aralığına sahip olduğu görüldü. JV ölçümlerinden ise dereceli yapının performansının daha yüksek olduğu belirlendi.

Özet

In this study, graded (A) InxGa1‐xN (10.5 ≤ x ≤ 18.4) and non graded (B) InxGa1‐xN (13.6 ≤ x ≤ 24.9) samples are grown on c‐oriented sapphire substrate using the Metal Organic Chemical Vapour Deposition (MOCVD) technique. The structural, optical and electrical features of the grown InGaN/GaN solar cell structures are analyzed using High Resolution X‐Ray Diffraction (HRXRD), Photoluminescense (PL), Ultraviolet (UV), current density and potential (JV) measurements. According to the HRXRD results; it is determined that the InGaN layer of the graded structure has a lower FWHM (Full width at half maximum) value. From the PL measurements, it is observed that the GaN half‐width peak value of the graded sample is narrower and the InGaN peak width value of the graded sample is larger. From UV measurements, that the graded sample has a greater band range. JV measurements determine that the performance of the graded structure is higher.

🔖

Cite This Article

DURUKAN, İ. K., ÖZTÜRK, M. K., ÖZÇELİK, S., ÖZBAY, E. (2017). Dereceli ve Derecesiz InXGa1‐XN Güneş Hücresi Yapılarındaki Mozaik Kusurların Analizi. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi, Cilt: 21 - Sayı: 1, 235–240. https://ajindex.com/articles/310327

📄 Full Text PDF Viewer

📄

PDF görüntüleyici hazırlanıyor...

References (1)

  1. Cai, X. M., Zeng, S. W., Li, X., Zhang, J. Y., Lin, S., Lin, A. K, Chen, M., Liu, W. J., Wu, S. X., Zhang, B.P. 2011. Dependence of the Property of InGaN p‐i‐n Solar Cells on the Light Concentration and Temperature. IEEE Transactions on electron devices, 58,3905‐3911. Mahala, P., Behura, S. K., Ray, A., Dhanavantri, C., Jani, O. 2012. The Effect of Indium Composition on Open‐Circuit Voltage of InGaN Thin‐Film Solar Cell: An Analytical and Computer Simulation Study. AIP Conf. Proc., 1451, 85‐87. Valdueza‐Felip, S., Mukhtarova, A., Grenet, L., Bougerol, C., Durand, C., Eymery, J., Monroy, E. 2014. Improved conversion efficiency of as‐ grown InGaN/GaN quantum‐well solar cells for hybrid integration. Appl. Phys.Exp., 7, 1‐3. Pankove, J. I., Miller, E. I., Berkeyheiser, J. E. 1971. GaN Electroluminescent Diodes. RCA Review, 32(3), 383‐392. Wu, J., Walukiewicz, W., Li, S.X., Armitage, R., Ho, J. C.,. Weber, E. R, Haller, E. E., Lu, H., Schaff, W. J., Barcz, A., Jakiela R. 2004. Effects of electron concentration on the optical absorption edge of InN. Applied Physics Letters, 84(15), 2805‐2807. Fu, S.P. 2004. Effective mass of InN epilayers. Applied Physics Letters, 85(9), 1523‐1525. Zhu, X.L., Guo, L.W., Yu, N.S., Peng, M.Z., Yan, J.F., Ge, B.H., Jia, H.Q., Chen, H., Zhou, J.M. 2006. Characteristics of High In‐content InGaN Alloys Grown by MOCVD, Chinese Physics Letters, 23(12), 3369‐3371. Butcher, K.S.A., Tansley, T.L. 2005. InN latest development and a review of the band‐gap controversy, Superlattices and Microstructures, 38(1), 1‐37. Schuster, M., Gervais, P. O., Jobst, B., Hosler, W., Averbeck, R., Riechert, H., Iberlkand, A., Stommer, R. 1999. Determination of the chemical composition of distorted InGaN GaN heterostructures from x‐ray diffraction data. Journal of Physics D‐Applied Physics, 32(10A), A56‐A60. Sun, Y., Cho, Y., Suh, E.K., Lee, H. J., Choi, R.J., Hahn, Y.B. 2003. High brightness blue and green light emitting quantum wells with graded‐In content profile grown by MOCVD,Phys. stat. sol. (c),7,2270‐2273. Hu, C., Lo, I, Hsu, Y.,Shih, C., Pang, W., Wang, Y., Lin, Y., Yang, C., Tsai, C., Hsu, G. Z. L. 2016. Growth of InGaN/GaN quantum wells with graded InGaN buffer for green to yellow light emitters Japanese Journal of Applied Physics, 55(8),1‐6. Yamaguchi, T., Morioka, C., Mizuo, K., Hori, M., Araki, T., Nanishi, Y., Suzuki, A. 2003. Growth of InN and InGaN on Si substrate for solar cell applications, Compound Semiconductors: Post‐ Conference Proceed