Dergiler / Avrupa Bilim ve Teknoloji Dergisi / 2018 / Sayı: 13
Nanoyapılı CuO İnce Filmlerin Bant Aralığının PEG Yüzey Aktif Maddesi Kullanılarak Kontrol Edilmesi
- Sayı
- 2018 · Sayı: 13
- Sayfa
- 124–128
- DOI
- —
Özet
Nano yapılı bakır oksit ince filmler, oda sıcaklığında cam substratlar üzerinde, farklı miktarlarda polietilen glikol (PEG) ile kolay ve düşük maliyetli bir Ardışık İyonik Tabaka Adsorpsiyon ve Reaksiyonu (SILAR) yöntemi ile üretilmiştir. CuO ince filmlerin optik özellikleri üzerine PEG'in etkileri, ultraviyole görünür (UV-Vis) spektroskopisi analizi ile incelenmiştir. Oda sıcaklığında UV-Vis analizi ile, CuO ince filmlerin optik bant aralığı değerlerinin ve geçirgenlik özelliklerinin, büyüme çözeltisindeki artan PEG konsantrasyonuna bağlı olduğu görülmüştür. CuO ince filmlerin optik bant aralığı enerjisinin, artan PEG konsantrasyonu ile 1.30 eV değerinden 1.42 eV değerine çıktığı tespit edilmiştir. CuO ince filmlerin kalınlığı da, PEG konsantrasyonuna bağlı olarak 137 nm ile 680 nm arasında değiştiği bulunmuştur. Ayrıca, ince filmlerin kırılma indisi (n), yüksek frekanslı dielektrik sabiti (e¥) ve optik statik (e0) değerleri dahil olmak üzere diğer önemli parametreler, film kalınlığının bir fonksiyonu olarak optik bant aralığı enerji değerleri kullanılarak hesaplanmıştır. Yapılan incelemeler, PEG konsantrasyonunun SILAR yöntemiyle büyütülen CuO ince filmlerinin optik özellikleri üzerinde kayda değer bir etkisi olduğunu ortaya çıkarmıştır.
Abstract
Nano yapılı bakır oksit ince filmler, oda sıcaklığında cam substratlar üzerinde, farklı miktarlarda polietilen glikol (PEG) ile kolay ve düşük maliyetli bir Ardışık İyonik Tabaka Adsorpsiyon ve Reaksiyonu (SILAR) yöntemi ile üretilmiştir. CuO ince filmlerin optik özellikleri üzerine PEG'in etkileri, ultraviyole görünür (UV-Vis) spektroskopisi analizi ile incelenmiştir. Oda sıcaklığında UV-Vis analizi ile, CuO ince filmlerin optik bant aralığı değerlerinin ve geçirgenlik özelliklerinin, büyüme çözeltisindeki artan PEG konsantrasyonuna bağlı olduğu görülmüştür. CuO ince filmlerin optik bant aralığı enerjisinin, artan PEG konsantrasyonu ile 1.30 eV değerinden 1.42 eV değerine çıktığı tespit edilmiştir. CuO ince filmlerin kalınlığı da, PEG konsantrasyonuna bağlı olarak 137 nm ile 680 nm arasında değiştiği bulunmuştur. Ayrıca, ince filmlerin kırılma indisi (n), yüksek frekanslı dielektrik sabiti (e¥) ve optik statik (e0) değerleri dahil olmak üzere diğer önemli parametreler, film kalınlığının bir fonksiyonu olarak optik bant aralığı enerji değerleri kullanılarak hesaplanmıştır. Yapılan incelemeler, PEG konsantrasyonunun SILAR yöntemiyle büyütülen CuO ince filmlerinin optik özellikleri üzerinde kayda değer bir etkisi olduğunu ortaya çıkarmıştır.