İplik Düzgünsüzlük Analizi için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı:Matematiksel Yaklaşım ve Gerçekleme

Özet

Tekstil sektörü, hızla gelişenve Türkiyeihracatının büyükkısmını oluşturan bir sektör haline gelmiştir. Tekstil ürünlerinindış piyasa ile rekabet edebilmesiiçin ürün kalitesinin artması gerekmektedir. Ürün kalitesi ise iplikkalitesine bağlı olarak değişebilmektedir. Bu çalışmada iplik kalitesini belirleyen parametrelerden biri olan iplik düzgünsüzlüğünün kapasitif olarak ölçümü için farksal paralel plaka yöntemine dayanan yeni bir ölçüm devresi önerisi yapılmış ve matematiksel olarak analiz edilmiştir. Paralel plakaların ve analog devrenin tasarım adımları, gerçeklenmesi, deney düzeneği anlatılmış ve ölçüm sonuçları irdelenmiştir.Tasarlanan devre ile düzgünsüzlük ölçümü oldukça hassas şekilde gerçekleştirilmiştir.