KaydedilenlerDerginizi ekleyin

Dergiler / Selçuk Üniversitesi Fen Edebiyat Fakültesi Fen Dergisi / 2002 / Sayı: 20

Bir cam malzemenin kırılma indisinin elipsometrik yöntemle belirlenmesi

Determination of refractive index of a glass material by ellipsometry technique

Gültekin ÇELİK
Haluk ŞAFAK
Sayfa
39–47
DOI
—
🏛️Bu makalenin bibliyografik verileri ve tam metin bağlantısı DergiPark üzerinden sağlanmıştır.
DergiPark Kaydı ↗
✨

Yapay Zeka Hızlı Bakış & Çıkarımlar

AI Insight
⚡ TL;DR(1 Cümlede Hızlı Çıkarım)

Bulunan sonuçların literatür ile uyum içerisinde olduğa görülmüştür.

📌 3 Maddede Bu Makale

🎯
Amaç & Hipotez:Bu çalışmada bir cam malzemenin kırılma indisi elipsometri yöntemi ile belirlenmiştir.
📊
Temel Bulgular & Veri:Bulunan deneysel parametreler bilgisayar ortamında değerlendirilerek cam malzemenin kırılma indisi hesaplanmıştır.
💡
Sonuç & Katkı:Bulunan sonuçların literatür ile uyum içerisinde olduğa görülmüştür.
🔬Tür:Literatür & Derleme Çalışması
📍Kapsam:Genişletilmiş Akademik Örneklem
⚙️Değişkenler:Alan Parametreleri

Özet

Bu çalışmada bir cam malzemenin kırılma indisi elipsometri yöntemi ile belirlenmiştir. Yapılan çalışmada Laser ışık kaynağı kullanılarak değişik gelme açılarında ölçümler alınmıştır. Bulunan deneysel parametreler bilgisayar ortamında değerlendirilerek cam malzemenin kırılma indisi hesaplanmıştır. Bulunan sonuçların literatür ile uyum içerisinde olduğa görülmüştür.

Abstract

In this study, refractive index of a glass material was determined by ellipsometry technique. By using a laser as a light source several measurements were performed for various incidence angles. The experimental parameters obtained were analysed by a computer program, and the refractive index of glass meterial was calculated. It was found that the results are in agreement with the literature.

🔖

Bu Makaleye Atıf Yap

ÇELİK, G., ŞAFAK, H. (2002). Bir cam malzemenin kırılma indisinin elipsometrik yöntemle belirlenmesi. Selçuk Üniversitesi Fen Edebiyat Fakültesi Fen Dergisi, Sayı: 20, 39–47. https://ajindex.com/articles/317711

Kaynakça (12)

  1. Burtchaqousky, E.G. Ellipsometric Method for Investigation of the Optical Anizotropy of Thin Films: Theory and Calculations Thin Solid Films 307:192-199 (1997
  2. Jungk, G., Jahne, E. Optical Properties of Film-Substrate Systems with an Anisotropic, Spatially Varying Dielectric Function of the Surface Layer Thin Solid Films 348: 279-284 (1999
  3. Chen,J.J., Un.J.Sheu, L.J. Simultaneous Measurement of Spectral Optical Properties and Thickness of an Absorbing Thin Film on a Substrate Thin Solid Films 354: 176-186 (1999
  4. Walsh, C.B., Franses, E.I. Thickness and Qualitiy of Spin – Coated Polymer Films by Two-Angle Ellipsometry Thin Solid Films 347: 167-177 (1999
  5. Kavcar, N. İnce Filmlerde Optik Yöntemlere Kısa Bir Bakış C.Ü. Fen-Edebiyat Fak. Fen Bil. Der. 3 Sivas (1985
  6. Mc Gılp, J. Optical Characterization of Semiconductor Surfaces and Interfaces Progress in Surface Science 49:1 1-106 (1995
  7. Çelik, G., Şafak, H. İnce Film Selenyumun Kırılma İndisinin ve Sönüm Katsayısının Elipsometrik Yöntemle Tayini S.Ü. Fen-Edebiyat Fak. Fen Dergisi 17 111-117 Konya (2000
  8. Dignam, J.M. Fourier Transform Polarization Spectroscopy Canada (1988
  9. Khashan, M.A., Naggar, A.M. A New Method of Finding the Optical Constants of a Solid From the Reflectance and Transmittance Spectrograms of its Slab Optics Communications 174: 445-453 (2000
  10. Kildemo, M., Ossikowski, R., Stchakowsky, M. Measurement of the Absorption Edge of Thick Transparent Substrate Using the Incoherent Reflection Model and Spectroscopic U.V.-Visible Near I.R. Ellipsometry Thin Solid Films 313-314: 108-113 (1998
  11. Lekner, J. Determination of Complex Refractive Index and Thickness of a Homogeneous Layer by Combined Reflection and Transmission Ellipsometry J.Opt. Soc. Am. A 2157 (1994
  12. Hoarmans, M.T., Bedeaux, D. Optical Properties of Thin Films up to Second Order in the Thickness Thin Solid Films 258 213-223 (1994)