Dergiler / Mugla Journal of Science and Technology / 2018 / Cilt: 4 - Sayı: 1

YARI KÜRESEL SAPTIRICI ENERJİ ANALİZÖRLERİ İÇİN GENETİK ALGORİTMA İLE EN İYİ VOLTAJ PROFİLİ

OPTIMAL VOLTAGE PROFILE FOR HEMISPHERICAL DEFLECTOR ENERGY ANALYZERS USING GENETIC ALGORITHM

Sayfa
74–78
DOI
—
🏛️Bu makalenin bibliyografik verileri ve tam metin bağlantısı DergiPark üzerinden sağlanmıştır.
DergiPark Kaydı ↗
✨

Yapay Zeka Hızlı Bakış & Çıkarımlar

AI Insight
⚡ TL;DR(1 Cümlede Hızlı Çıkarım)

Literatürde yer alan diğer tekniklerin aksine, önerilen GA yöntemi aracılığıyla, en iyi voltaj profili kısa sürede elde edilmektedir.

📌 3 Maddede Bu Makale

🎯
Amaç & Hipotez:Bu çalışmada, yüklü parçacıkların enerjisine göre analizini gerçekleştirebilen, yarı küresel saptırıcı analizörünü optimize etmek için genetik algoritma (GA) yöntemi kullanılmıştır.
📊
Temel Bulgular & Veri:Bu çalışmanın amacı, enerji analizörüne ait voltaj denklemleri aracılığıyla, 180˚ yarı küresel enerji analizörleri için en iyi voltaj profilini elde etmektir.
💡
Sonuç & Katkı:Literatürde yer alan diğer tekniklerin aksine, önerilen GA yöntemi aracılığıyla, en iyi voltaj profili kısa sürede elde edilmektedir.
🔬Tür:Literatür & Derleme Çalışması
📍Kapsam:Genişletilmiş Akademik Örneklem
⚙️Değişkenler:Elektron Optiği · Elektrostatik Enerji Analizörü · Yapay Zeka

Özet

Bu çalışmada, yüklü parçacıkların enerjisine göre analizini gerçekleştirebilen, yarı küresel saptırıcı analizörünü optimize etmek için genetik algoritma (GA) yöntemi kullanılmıştır. Evrim kodlarından esinlenen GA, bireyler popülasyonundan oluşmaktadır. Her adımda, GA, popülasyon bireylerini ebeveyn olarak seçip bu bireyleri gelecek nesil için çocukları üretmek için kullanır. Böylece kuşaklar boyunca, nüfus en iyi bir çözüme doğru gelişmektedir. Bu çalışmanın amacı, enerji analizörüne ait voltaj denklemleri aracılığıyla, 180˚ yarı küresel enerji analizörleri için en iyi voltaj profilini elde etmektir. Deneysel çalışmalarda en çok kullanılan analizör olan 180˚ yarı küresel saptırıcı analizörü için en iyi voltaj değerleri yüksek doğrulukla bu çalışmada bulunmuştur. GA ile analizör sistemi gibi karmaşık bir elektron optiksel sistemin optimizasyonu, voltaj denklemleri kullanılarak elde edilmiştir ve problemin zorluğu göz önüne alındığında oldukça iyi çalıştığı bulunmuştur. Literatürde yer alan diğer tekniklerin aksine, önerilen GA yöntemi aracılığıyla, en iyi voltaj profili kısa sürede elde edilmektedir.

Abstract

In this study, the genetic algorithm (GA) method is used to optimize the hemispherical deflector analyzer, which can analyze according to the energies of charged particles. The GA inspired by evolutionary codes consists of the population of individuals. At each step, the GA, selects the population individuals as parents and uses them to produce children for the next generation. Thus throughout generations, the population evolves to an optimal solution. The purpose of this study is to achieve the best voltage profile for the 180° hemispherical energy analyzers through the voltage equations of the energy analyzer. The best voltage values ​​for the 180˚ hemispherical deflector analyzer, which is the most used analyzer in experimental studies, are found with high accuracy in this study. Optimization of a complex electron optical system, such as an analyzer system with a GA, has been achieved using voltage equations and has been found to work very well given the difficulty of the problem. In contrast to other techniques in the literature, the best voltage profile is obtained in a short time by means of the proposed GA method.

🔖

Bu Makaleye Atıf Yap

IŞIK, N. (2018). YARI KÜRESEL SAPTIRICI ENERJİ ANALİZÖRLERİ İÇİN GENETİK ALGORİTMA İLE EN İYİ VOLTAJ PROFİLİ. Mugla Journal of Science and Technology, Cilt: 4 - Sayı: 1, 74–78. https://ajindex.com/articles/294024

📄 Tam Metin PDF Okuyucu

📄

PDF görüntüleyici hazırlanıyor...

Kaynakça (10)

  1. Imhof R. E., Adams A., King G. C., “Energy and Time Resolution of the 180 Degrees Hemispherical Electrostatic Analyzer”, Journal of Physics E: Scientific Instruments, Vol. 9, No.2, pp. 138-142. 1976.
  2. Heddle D.W.O., Electrostatic Lens Systems, CRC Press, United Kingdom. 2000.
  3. Sise O., Ulu M., Dogan M., Martinez G., Zouros T. J. M., “Fringing Field Optimization of Hemispherical Deflector Analyzers Using BEM and FDM”, J. Elect. Spect. Rel. Phen., Vol. 177, No. 1, pp. 42-51, 2010. R. Herzog, “Ablenkung von Kathoden- und Kanalstrahlen am Rande eines Kondensators, dessen Streufeld durch eine Blende begrenzt ist”, Z. Physik, Vol. 97, pp. 596-602, 1935. K. Jost, “Fringing field correction for 127 degrees and 180 degrees electron spectrometers”, J. Phys. E: Sci. Instrum., Vol. 12, pp. 1001, 1979. N. Martensson, “A Very High Resolution Electron Spectrometer”, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom., Vol. 70, pp. 117-128, 1994.
  4. E.P. Benis, T.J.M. Zouros, “Improving the Energy Resolution of a Hemispherical Spectrograph Using a Paracentric Entry at a Non-zero Potential”, Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. A, Vol. 440, pp. 462-465, 2000.
  5. T.J.M. Zouros, E.P. Benis, “The Hemispherical Deflector Analyser Revisited. I. Motion in the Ideal 1/r Potential, Generalized Entry Conditions, Kepler Orbits and Spectrometer Basic Equation”, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. Vol. 125, pp. 221–248, ibid. Vol. 142 (2005) 175–176, 2002.
  6. T.J.M. Zouros, O. Sise, M. Ulu, M. Dogan, “DESIGN NOTE: Using the fringing fields of a hemispherical spectrograph to improve its energy resolution”, Meas. Sci. Technol. 17, 2006, pp. N81–N86, 2006.
  7. O. Sise, T.J.M. Zouros, M. Ulu, M. Dogan, “Novel and traditional fringing field correction schemes for the hemispherical analyser: Comparison of first-order focusing and energy resolution”, Meas. Sci. Technol., Vol. 18, pp.1853-1858, 2007. [11] B.P. Benis, T.J.M. Zouros, “The Hemispherical Deflector Analyser Revisited II. Electron-Optical Properties”,J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom., Vol. 163, pp.28–39, 2008.
  8. Sise O., Zouros T. J. M., Position, Energy, and Transit Time Distributions in a Hemispherical Deflector Analyzer with Position Sensitive Detector, J. Spect., Vol. 1535, pp. 13-20, 2015.
  9. Işık N., Işık A.H., Sise O., Guvenc U., “Prediction of First Order Focusing Properties of Ideal Hemispherical Deflector Analyzer Using Artificial Neural Network” Vol. 131, No. 1, pp. 10-12, 2017.
  10. Goldberg D. E., Holland, J. H., “Genetic Algorithms and Machine Learning”,