Yapay Zeka Hızlı Bakış & Çıkarımlar
AI InsightAlınan optik soğurma ölçümleri ise tur sayısının artmasına bağlı olarak artan kalınlık miktarının band aralığını arttırdığını ve bu değerlerin 2.2 eV’den 2.7 eV’e kadar değiştiğini göstermiştir.
📌 3 Maddede Bu Makale
Özet
Bu çalışmada CdO ince filmleri cam altlıklar üzerine SILAR tekniği ile oda sıcaklığında farklı kalınlıklarda büyütüldü. Elde edilen ince filmlerin taramalı elektron mikroskobu (SEM), X-ışını difraksiyonu (XRD) ve UV vis spektrofotometrede ölçümleri alınarak incelendi. SEM görüntüleri CdO ince filmlerinin yüzey morfolojisinin kalınlık değişimi ile değiştiğini göstermiştir. XRD sonuçları büyütülen tüm numunelerin kübik yapıya sahip olduğunu ve tur sayısının değişimi ile piklerin şiddetlerinin değişim sergilediğini göstermiştir. Alınan optik soğurma ölçümleri ise tur sayısının artmasına bağlı olarak artan kalınlık miktarının band aralığını arttırdığını ve bu değerlerin 2.2 eV’den 2.7 eV’e kadar değiştiğini göstermiştir.
Abstract
Bu çalışmada CdO ince filmleri cam altlıklar üzerine SILAR tekniği ile oda sıcaklığında farklı kalınlıklarda büyütüldü. Elde edilen ince filmlerin taramalı elektron mikroskobu (SEM), X-ışını difraksiyonu (XRD) ve UV vis spektrofotometrede ölçümleri alınarak incelendi. SEM görüntüleri CdO ince filmlerinin yüzey morfolojisinin kalınlık değişimi ile değiştiğini göstermiştir. XRD sonuçları büyütülen tüm numunelerin kübik yapıya sahip olduğunu ve tur sayısının değişimi ile piklerin şiddetlerinin değişim sergilediğini göstermiştir. Alınan optik soğurma ölçümleri ise tur sayısının artmasına bağlı olarak artan kalınlık miktarının band aralığını arttırdığını ve bu değerlerin 2.2 eV’den 2.7 eV’e kadar değiştiğini göstermiştir.