KaydedilenlerDerginizi ekleyin

Dergiler / Pamukkale Üniversitesi Mühendislik Bilimleri Dergisi / 2019 / Cilt: 25 Sayı: 2

Termoelektrik yarıiletkenlerin P-N elektriksel iletkenlik tipinin belirlenmesine yönelik çok fonksiyonlu prob tasarımı

The design of multi-functional probe for determining the P-N electrical conductivity type of thermoelectric semiconductors

Serkan Dişlitaş
Hilmi Yanmaz
Günay Ömer
Raşit Ahıska
Sayfa
151–156
Yayın Tarihi
2019-04-22
DOI
—
🏛️Bu makalenin bibliyografik verileri ve tam metin bağlantısı DergiPark üzerinden sağlanmıştır.
DergiPark Kaydı ↗
✨

Yapay Zeka Hızlı Bakış & Çıkarımlar

AI Insight
⚡ TL;DR(1 Cümlede Hızlı Çıkarım)

Sonuç olarak, geliştirilen çok fonksiyonlu prob ile TE yarıiletkenlerin elektriksel iletkenlik tipleri P veya N olarak pratik, hızlı ve güvenilir bir şekilde belirlenebilmektedir.

📌 3 Maddede Bu Makale

🎯
Amaç & Hipotez:Normal 0 false false false TR X-NONE X-NONE /* Style Definitions */ table.MsoNormalTable {mso-style-name:"Normal Tablo"; mso-tstyle-rowband-size:0; mso-tstyle-colband-size:0; mso-style-noshow:yes; mso-style-priority:99; mso-style-parent:""; mso-padding-alt:0cm 5.4pt 0cm 5.4pt; mso-para-margin-top:0cm; mso-para-margin-right:0cm; mso-para-margin-bottom:10.0pt; mso-para-margin-left:0cm; line-height:115%; mso-pagination:widow-orphan; font-size:11.0pt; font-family:"Calibri",sans-serif; mso-ascii-font-family:Calibri; mso-ascii-theme-font:minor-latin; mso-hansi-font-family:Calibri; mso-hansi-theme-font:minor-latin; mso-bidi-font-family:"Times New Roman"; mso-bidi-theme-font:minor-bidi; mso-ansi-language:TR;} Bu çalışmada, termoelektrik (TE) yarıiletkenlerin P-N elektriksel iletkenlik tiplerinin belirlenmesi amacıyla, temelini Seebeck etkisine dayanan Hot-Probe metodunun oluşturduğu çok fonksiyonlu bir prob tasarlanmış ve gerçekleştirilmiştir.
📊
Temel Bulgular & Veri:Tip belirleme işlemi, TE yarıiletkenin yüzeyleri arasında sıcaklık farkının ( D T) oluşturulmasıyla üretilen Seebeck geriliminin (termoemk) pozitif veya negatif genlikli olma durumuna göre yapılmaktadır.
💡
Sonuç & Katkı:Sonuç olarak, geliştirilen çok fonksiyonlu prob ile TE yarıiletkenlerin elektriksel iletkenlik tipleri P veya N olarak pratik, hızlı ve güvenilir bir şekilde belirlenebilmektedir.
🔬Tür:Araştırma Makalesi
📍Kapsam:Genişletilmiş Akademik Örneklem
⚙️Değişkenler:Termoelektrik · Yarıiletken · Hot-Probe metodu

Özet

Normal 0 false false false TR X-NONE X-NONE /* Style Definitions */ table.MsoNormalTable {mso-style-name:"Normal Tablo"; mso-tstyle-rowband-size:0; mso-tstyle-colband-size:0; mso-style-noshow:yes; mso-style-priority:99; mso-style-parent:""; mso-padding-alt:0cm 5.4pt 0cm 5.4pt; mso-para-margin-top:0cm; mso-para-margin-right:0cm; mso-para-margin-bottom:10.0pt; mso-para-margin-left:0cm; line-height:115%; mso-pagination:widow-orphan; font-size:11.0pt; font-family:"Calibri",sans-serif; mso-ascii-font-family:Calibri; mso-ascii-theme-font:minor-latin; mso-hansi-font-family:Calibri; mso-hansi-theme-font:minor-latin; mso-bidi-font-family:"Times New Roman"; mso-bidi-theme-font:minor-bidi; mso-ansi-language:TR;} Bu çalışmada, termoelektrik (TE) yarıiletkenlerin P-N elektriksel iletkenlik tiplerinin belirlenmesi amacıyla, temelini Seebeck etkisine dayanan Hot-Probe metodunun oluşturduğu çok fonksiyonlu bir prob tasarlanmış ve gerçekleştirilmiştir. Tip belirleme işlemi, TE yarıiletkenin yüzeyleri arasında sıcaklık farkının ( D T) oluşturulmasıyla üretilen Seebeck geriliminin (termoemk) pozitif veya negatif genlikli olma durumuna göre yapılmaktadır. Geliştirilen prob sayesinde, hem sıcaklık farkının oluşturulmasına yönelik gerekli ısıtma hem de termoemk gerilimi ve sıcaklık ölçümü yapılabilmektedir. Deneysel çalışma sonuçlarına göre; geliştirilen prob ile termoemk ölçümlerinin 0-30 mV aralığında ± 0.1 mV doğrulukta, sıcaklık ölçümlerinin ise 0-75 ° C aralığında ± 1 ° C doğrulukta yapılabildiği anlaşılmıştır. Sonuç olarak, geliştirilen çok fonksiyonlu prob ile TE yarıiletkenlerin elektriksel iletkenlik tipleri P veya N olarak pratik, hızlı ve güvenilir bir şekilde belirlenebilmektedir.

🔖

Bu Makaleye Atıf Yap

Dişlitaş, S., Yanmaz, H., Ömer, G., Ahıska, R. (2019). Termoelektrik yarıiletkenlerin P-N elektriksel iletkenlik tipinin belirlenmesine yönelik çok fonksiyonlu prob tasarımı. Pamukkale Üniversitesi Mühendislik Bilimleri Dergisi, Cilt: 25 Sayı: 2, 151–156. https://ajindex.com/articles/1058619

📄 Tam Metin PDF Okuyucu

📄

PDF görüntüleyici hazırlanıyor...

Kaynakça (24)

  1. Akter N, Afrin S, Hossion A, Kabir K, Akter S, Mahmood ZH. “Evaluation of majority charge carrier and impurity concentration using Hot Probe method for mono crystalline Silicon (100) wafer”. International Journal of Advances in Materials Science and Engineering (IJAMSE), 4(4), 13-21, 2015.
  2. Akter N, Hossion MA, Hoq M, Rana SM, Anzan-Uz-Zaman M, Mia MNH, Kabir MA, Mahmood ZH. “Electrical characterization and doping uniformity measurement during crystalline silicon solar cell fabrication using hot probe method”. Engineering International, 2(1), 38-42, 2014.
  3. Axelevitch A, Golan G. “Hot-Probe method for evaluation of majority charged carriers concentration in semiconductor thin films”. Facta Universitatis Series: Electronics and Energetics, 26(3), 187-195, 2013.
  4. Kumar SR, Kasiviswanathan S. “A hot probe setup for the measurement of Seebeck coefficient of thin wires and thin films using integral method”. The Review of Scientific Instruments, 79(2), 024302-1-4, 2008.
  5. Golan G, Axelevitch A, Gorenstein G, Manevych V. “Hot-Probe method for evaluation of impurities concentration in semiconductors”. Microelectronics Journal, 37(9), 910-915, 2006.
  6. Zhou Y, Wang Y, Zhang J, Li Q. “Hot Probe Method for Measuring Thermal Conductivity of Copper Nano-particles/Paraffin Composite Phase Change Materials”. Key Engineering Materials, 561, 428-434, 2013.
  7. Neamen DA. Semiconductor Physics & Devices: Basic Principles. 4th ed. New York, USA, Mcgraw-Hill, 2012.
  8. Matsumura T, Sato Y. “A theoretical study on van der pauw measurement values of inhomogeneous compound semiconductor thin films”. Journal of Modern Physics, 1(5), 340-347, 2010.
  9. Kinder R, Mikolasek M, Donoval D, Kovac J, Tlaczala, M. “Measurement system with hall and a four point probes for characterization of semiconductors”. Journal of Electrical Engineering, 64(2), 106-111, 2013.
  10. Meydanyeri F, Saatçi B, Ari M. “Thermo-electrical characterization of Lead-Cadmium (Pb-Cd) alloys”. International Journal of Physical Sciences, 7(48), 6210-6221, 2012.
  11. Pollock DD. Thermoelectric Phenomena. Editor: Rowe DM. CRC Handbook of Thermoelectrics, 21-31, FL, USA, CRC Press, 1995.
  12. Buist RJ. Methodology for testing thermoelectric materials and devices. Editor: Rowe DM. CRC Handbook of Thermoelectrics, 189-209, FL, USA, CRC Press, 1995.
  13. Mamur H, Ahiska R. “Application of a DC-DC boost converter with maximum power point tracking for low power thermoelectric generators”. Energy Conversion and Management, 97, 265-272, 2015.
  14. Temizer İ, İlkılınç C. “İçten yanmalı dizel motorunun atık egzoz gazı enerjisi kullanılarak elektrik enerjisi üretimi”. Pamukkale Üniversitesi Mühendislik Bilimleri Dergisi, 23(4), 330-336, 2017.
  15. Fidan U. Mikrodenetleyici Kontrollü Taşınabilir Termoelektrik Tıp Kiti Cihazı Tasarımı ve Uygulaması. Yüksek Lisans Tezi, Gazi Üniversitesi, Ankara, Türkiye, 2000.
  16. Ahıska R, Güler NF, Savaş Y. “Termoelektrik soğutucusunun özelliklerinin araştırılması”. Politeknik Dergisi, 2(3), 89-94, 1999.
  17. Ökten E. Mikrodenetleyicili Sıcaklık ve Hız Kontrollü Termoelektrik Yarıiletken Üretim Sistemi, Yüksek Lisans Tezi, Gazi Üniversitesi, Ankara, Türkiye, 2007.
  18. Ahıska R, Güler E, Acar S, Kasap M. “Thermoelectric Characterization of N-type (Bi2Te3)Se3 Semiconductors in a Temperature Range 11-373 K”. Gazi University Journal of Science, 18(3), 481-487, 2005.
  19. Möröydor E. Sb2Te3 ve Bi2Te3 İçerikli Bileşenlerin Termoelektrik, Yapısal ve Mikroyapısal Özelliklerinin İncelenmesi. Doktora Tezi, Yıldız Teknik Üniversitesi, İstanbul, Türkiye, 2005.
  20. Tellurex Corporation. “Frequently Asked Questions about Our Power Generation Technology”. https://tr.scribd.com/document/151844647/seebeck-faq (12.04.2019).
  21. Texas Instruments. “LM35 Precision Centigrade Temperature Sensors, 2016”. http://www.ti.com/lit/ds/symlink/lm35.pdf (11.01.2018).
  22. Microchip Corporation. “8-bit AVR Microcontrollers”. http://ww1.microchip.com/downloads/en/DeviceDoc/Atmel-42735-8-bit-AVR-Microcontroller-ATmega328-328P_Summary.pdf (30.05.2018).
  23. Texas Instruments. “Instrumentation Amplifier with Precision Voltage Reference”. http://www.ti.com/lit/ds/symlink/ina125.pdf (30.05.2018).
  24. Fluke Corparation. “Fluke 287/287 True-rms Digital Multimeters User Manual, 2007”. http://media.fluke.com/documents/287_289_umeng0200.pdf (19.01.2018).