Journals / Anadolu Üniversitesi Fen Fakültesi Dergisi / 1996 / Cilt: 0 - Sayı: 2
The electrical, optical and crystal structure of CdS and $Cd_{0.8}ln_{0.2}S$ films grown by spray pyrolysis method
- Pages
- 161–172
- DOI
- —
Abstract
The films of the CdS and $Cd_{0.8}ln_{0.2}S$ compound semiconductors have been deposited by spray pyrolysis method onto pyrex substrate at temperature 350 °C. The electrical resistivities of CdS and $Cd_{0.8}ln_{0.2}S$ films were found 2.5x$10^4$ (ohm-cm) and 2.5x$10^2$ (ohm-cm), respectively. After annealing, the resistivities of CdS were obtained between 2.5x$10^4$ and 5x$10^6$ (ohm-cm). The values of the resistivities for $Cd_{0.8}ln_{0.2}S$ film were found between 2.5x$10^2$ and 2.5x$10^5$ (ohm-cm). The band gaps were found as 2.42-2.44 eV for CdS and 2.39-2.44 eV for $Cd_{0.8}ln_{0.2}S$ film. The crystal structure of the films were studied by x-ray powder method, and the crystal systems of them were determined as hexagonal from ASTM cards. In our work, the resistivities of CdS and $Cd_{0.8}ln_{0.2}S$ films have increased after annealing, but the resistivity of $Cd_{0.8}ln_{0.2}S$ film was found less than the resistivity of CdS film. The x-ray spectrum of the films showed that they are polycrystalline.
Özet
Spray pyrolysis metodu ile 350 °C taban sıcaklığında elde edilen CdS ve $Cd_{0.8}In_{0.2}S$ filimlerinin bazı elektrik ve optik özellikleri ile kristal yapıları incelenmiştir. Bu filimlerin, elektrik özdirençleri tavlamadan önce sırası ile 2.5x$10^4$ (ohm-cm) ve 2.5x$10^2$ (ohm-cm) ve 250-450 °C arasındaki sıcaklıklarda, tavlamadan sonra CdS için 2.5x$10^4$-5x$10^6$ (ohm cm), $Cd_{0.8}ln_{0.2}S$ için 2.5x$10^2$-2.5x$10^5$ (ohm cm) arasında değiştiği hesaplanmıştır. Bu filimlerin yasak enerji aralıkları optik metodla CdS için 2.42 eV ve 2.44 ev, $Cd_{0.8}ln_{0.2}S$ için 2-39 eV ve 2-44 eV olmak üzere farklı ikişer değer bulunmuştur. X-ışını toz kırınım desenlerinden heriki filimin kristal yapılarının ASTM kartlarından hegzagonal olduğu tesbit edilmiştir. Yaptığımız deney sonucunda elde edilen $Cd_{0.8}ln_{0.2}S$ bilimlerin, tavlama işleminden sonra özdirençlerinde belirgin bir artışın olduğu görülmüştür. $Cd_{0.8}ln_{0.2}S$ filiminin özdirenci.CdS' ün özdirencine göre tavlamadan önce ve sonra biraz düşük ölçülmüştür. X-ışını spektrumları bu filimlerin polikristal olduklarını göstermektedir.