Journals / Anadolu Üniversitesi Fen Fakültesi Dergisi / 2001 / Cilt: 0 - Sayı: 6

The X-ray diffraction patterns of CuInS2 semiconductor films

CuInS2 yarıiletken filminin X-ışını kırınım desenleri

Pages
117–123
DOI
—

Abstract

In this study,the crystal structure of CuInS2 compound semiconductor films produced by means of the spray pyrolysis method at various substrate temperatures has been investigated by x-ray diffraction pattern.

Özet

Bu araştırmada, spray pyrolysis yöntemiyle farklı taban sıcaklıklarında elde edilen CuInS2 yarıiletken bileşiğinin x-ışını kırınım desenlerinden, kristal yapısı hakkında bilgi edinilmiştir.