Journals / Anadolu Üniversitesi Bilim ve Teknoloji Dergisi :A-Uygulamalı Bilimler ve Mühendislik / 2003 / Cilt: 4 - Sayı: 1
Püskürtme yöntemi ile elde edilen $Cd_ {0.22} Zn_{ 0.78}$ filmlerinin yapısal ve optiksel özellikleri
- Pages
- 47–52
- DOI
- —
Abstract
$Cd_ {0.22} Zn_{ 0.78}$ S semiconductor films have been produced by the spray-pyrolysis method at different substrate temperatures, and their structural and optical properties have been investigated. X-ray diffraction spectra of the films showed that they are hexagonal and formed as $Cd_ {0.22} Zn_{ 0.78}$ S polycrystalline structure. The absorption spectra of the films showed that this compound is a direct band gap material and gap values varied between 2.72eV and 2.90eV.
Özet
Püskürtme yöntemi ile farklı taban sıcaklıklarında elde edilen $Cd_ {0.22} Zn_{ 0.78}$ S yarıiletken filmlerinin yapısal ve optiksel özellikleri incelenmiştir. X-ışını kırınım desenlerinden, elde edilen filmlerin polikristal ve hegzagonal $Cd_ {0.22} Zn_{ 0.78}$ S yapıda oldukları saptanmıştır. Absorpsiyon spektrumu ölçümlerinden filmlerin direkt bant geçişli olduğu ve yasak enerji aralıklarının 2,72eV ile 2,90eV arasında değiştiği belirlenmiştir.