Determination of The Thickness and Optical Constants of Polycrystalline SnO2 Thin Film by Envelope Method

Polikristal SnO2 İnce Filmin Kalınlık ve Optik Sabitlerinin Zarf Yöntemi ile Belirlenmesi

Abstract

SnO2 (tin dioxide) thin film was deposited on commercial glass substrate by spraypyrolysis technique at 420o C. The XRD analyses indicated that the SnO2 thin film is foundto tetragonal rutile structure. Optical transmission values (T %) of the film are the rangeof 80-96 % in the visible region and its highly transparent. The absorption coefficients(α) were defined from transmission spectrum. Refractive indices (n) and film thickness(t) were determined from interferences of the optical transmission curve with envelopemethod. The refractive indices (n) were altered between 1.83-1.97 in the ultravioletvisible-near-infrared(UV-VIS-NIR) regions. The thickness (t) and optical energy gap(Eg) of the SnO2 thin film were found to be 1.22 μm and 3.98 eV, respectively.

Özet

SnO2 (kalay dioksit) ince film ticari cam alttaban üzerinde 420o C’de püskürtme tekniği ile depolanmıştır. XRD analizleri SnO2 ince filmin tetragonal rutil yapıya sahip olduğunu göstermiştir. Filmin optik geçirgenlik değerleri (% T) görünür bölgede % 80- 96 aralığındadır ve son derece şeffaftır. Soğurma katsayıları (α) geçirgenlik spektrumundan hesaplanmıştır. Kırılma indisleri (n) ve film kalınlığı (t) zarf yöntemi kullanılarak optik geçirgenlik eğrisinin girişimlerinden belirlenmiştir. Ultraviyolegörünür-yakın kızılötesi (UV-VIS-NIR) bölgelerinde kırılma indisleri (n) 1.83-1.97 aralığında değişmiştir. SnO2 ince filmin kalınlığı (t) ve optik enerji aralığı, sırasıyla 1.22 μm ve 3.98 eV olarak bulunmuştur.