Journals / Erzincan Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi / 2021 / Cilt: 14 - Sayı: 2
Investigation of the Dependence of Ambipolarity on Channel Thickness for TMDC Based Field Effect Transistors
- Pages
- 825–836
- DOI
- —
Abstract
Bu çalışmada ağırlıklı olarak güncel çift-kutuplu alan etkili transistör üzerinde duruldu. Cift-kutup, son yıllarda birçok uygulama için önemli hale geldi. Literatürde cift-kutupa neden olan birçok faktör bildirilmiştir. Bununla birlikte, iki kutupluluğun nedenleri literatürde tam olarak araştırılmamıştır. Bu çalışmada, çift kutupluluk derecesi, WS2 FET cihazı için kanal kalınlığının bir fonksiyonu olarak belirlenmiştir. Kalınlık arttıkça çift kutupluluk derecesinin sıfıra yaklaştığı görülmüştür. Ambipolarite derecesinin sıfıra yaklaşması, WS2 kanalının doğal n-tipi davranış sergilediğini ve ambipolarite etkisinin ortadan kalktığını gösterir.
Özet
Bu çalışmada ağırlıklı olarak güncel ambipolar alan etkili transistor üzerinde duruldu. Ambipolarite, son yıllarda birçok uygulama için önemli hale geldi. Literatürde ambipolariteye neden olan birçok faktör bildirilmiştir. Bununla birlikte, ambipolaritenin nedenleri literatürde tam olarak araştırılmamıştır. Bu çalışmada, ambipolarite derecesi, WS2 FET cihazı için kanal kalınlığının bir fonksiyonu olarak belirlenmiştir. Kalınlık arttıkça ambipolarite derecesinin sıfıra yaklaştığı görülmüştür. Ambipolarite derecesinin sıfıra yaklaşması, WS2 kanalının doğal n-tipi davranış sergilediğini ve ambipolarite etkisinin ortadan kalktığını gösterir.