Journals / Türk Bilimsel Derlemeler Dergisi / 2018 / Cilt: 11 Sayı: 1

Nanoparçacıkların Ölçme ve İnceleme Teknikleri

Pages
63–69
DOI
—

Özet

Nanoparçacıkların (NP’ların) tanımlanması için çok geniş ölçme ve inceleme analiz teknikleri olmasına rağmen, çevresel ve akuatik matrikslerde NP’ların miktarını ve özelliklerini ölçmede kullanılan çok az sayıda analitik ve spektroskopik metotlar vardır. Bu analiz tekniklerinde olan DLS, NP’ların bulunduğu kolloidal çözelti ortamında boyutlandırılması ve süspansiyonlarda kümeleşimlerini belirlemek için kullanılır. Zeta Potansiyeli, parçacık ile parçacığın içinde bulunduğu sıvı arasında oluşur. Zeta Potansiyeli, bir parçacığın dağıldığı yığın sıvısı ve NP yüzeyi ile alakalı zıt yüklü iyonları içeren sıvı tabakası arasındaki potansiyel farkının bir ölçüsüdür. NP’ların görüntülenmesi için TEM ve SEM analiz yöntemleriyle, parçacıkların boyutunu, yapısını, şeklini, kümeleşimi ve dağılımı belirlemekte başarılı bir şekilde uygulanılır. AKM ile de moleküller arası kuvvetler hassas bir şekilde ölçülebilir ve özel bir hazırlama işlemi gerektirmeden malzemeler her ortamda görüntülenebilir. NP’ların yapısal karakterizasyonu için uygun olan XRD yöntemi kristallografik bilgi sağlarken, NP yüzeyleri ve kaplamalarının karakterizasyonu için de kullanılabilir. Bir NP’lün molekül veya bileşik yapısında bulunan bağlar hakkında tanımlayıcı bilgi sağlamak için FT-IR kullanılır. ICP-MS ile başta metalik elementler olmak üzere periyodik tablodaki elementlerin büyük çoğunluğunun nicel ve yarı-nitel tayinlerinde de yaygın olarak kullanılmaktadır. Bu yöntemle iz element derişimlerinin belirlenmesiyle, herhangi bir çözeltideki metal bazlı NP’ların konsantrasyonun hesaplanması yapılabilir. Ayrıca bir UV-Vis dedektörü ile birlikte florasan NP’lar ve kolloidlerin karakterizasyonu mümkündür. NP’ların derişimi belirli bir dalgaboyundaki absorpsiyonunu UV-Vis spektroskopinde ölçerek bulunur. Tüm bu teknikler ve ölçüm yöntemleri bu çalışmamızda detaylı bir şekilde bilgi verilmiştir

Keywords: Nanoprtikül, Karakterizasyon, DLS, Zeta, TEM, SEM, AKM, XRD, FT-IR, ICP-MS