AI Summary & Key Takeaways
AI InsightOverall, the results demonstrate that the proposed attribute control chart is applicable to processes in which product lifetimes follow the Compound Weibull distribution and provides an effective tool for monitoring process shifts.
📌 3 Key Takeaways
Abstract
This study proposes an attribute control chart for the compound Weibull distribution based on a single sampling plan under a time-truncated life test to monitor failure rates. To provide a more reliable representation of process deterioration in right-skewed lifetime distributions, process shifts are defined in terms of the median lifetime. The performance of the proposed attribute control chart is evaluated under different in-control average run length values, process shift magnitudes, and sample sizes. In addition, the performance of the chart is assessed by calculating the expected average run length and expected quadratic loss values. Design tables are constructed and interpreted by considering different combinations of the compound Weibull distribution shape parameters, sample sizes, average run length values, and process shift magnitudes. Finally, data generated from the compound Weibull distribution are used to demonstrate the effectiveness of the proposed np attribute control chart in detecting changes in the median lifetime and monitoring product quality under a time-truncated life test, and the proposed approach is illustrated through representative example scenarios. Overall, the results demonstrate that the proposed attribute control chart is applicable to processes in which product lifetimes follow the Compound Weibull distribution and provides an effective tool for monitoring process shifts.
Özet
Bu çalışmada, tek örnekleme planına dayalı ve zaman kısıtlı yaşam testi altında arıza oranlarını izlemek amacıyla bileşik Weibull dağılımı için nitelik kontrol kartı ele alınmıştır. Süreç kaymaları, sağa çarpık yaşam süresi dağılımlarında süreç bozulmasını daha güvenilir biçimde yansıtabilmek amacıyla, medyan yaşam süresi üzerinden tanımlanmıştır. Önerilen nitelik kontrol kartının performansı, farklı kontol içi ortalama işletim uzunluğu değerleri, kayma parametreleri ve örneklem büyüklükleri altında incelenmiştir. Ayrıca, beklenen ortalama işletim uzunluğu, karesel kayıp fonksiyonu değerleri de hesaplanarak kartın performansı değerlendirilmiştir. Bileşik Weibull dağılımı şekil parametreleri, örneklem büyüklükleri, ortalama işletim uzunluğu ve süreç kayma büyüklüklerine ilişkin farklı kombiansyonlar ele alınarak tasarım tabloları hazırlanmış ve yorumlanmıştır. Niteliksel np kontrol kartının medyan yaşam süresindeki değişimleri belirlemede ve zaman kısıtlı yaşam testi altında ürün kalitesini izlemede etkili olduğunu göstermek için bileşik Weibull verisi türetilmiş, örnek senaryolar verilerek açıklanmıştır. Genel olarak, elde edilen bulgular önerilen nitelik kontrol kartının yaşam sürelerinin bileşik Weibull dağılımını izlediği süreçlerde uygulanabilir olduğunu ortaya koymakta ve süreç kaymalarının izlenmesinde etkili bir araç sunduğunu göstermektedir.