Dergiler / Anadolu Üniversitesi Fen Fakültesi Dergisi / 2001 / Cilt: 0 - Sayı: 6

CdIn2S4 yarıiletken filmlerinin X-ışını kırınım desenleri

X-ray difraction patterns of CdIn2S4 semiconductor films

Metin KUL

Sayfa
83–92
DOI
—

Özet

Bu araştırmada, spray pyrolysis yöntemiyle elde edilen CdIn2S4 yarıiletken filmlerinin, oda sıcaklığında x-ışını kırınım desenlerinden, polikristal yapıya sahip oldukları görülmüştür.

Abstract

In this study, x-ray diffraction patterns of CdIn2S4 compound semiconductor films (at room temperature) produced by the spray pyrolysis method indicate that the films are polycrystalline.

CdIn2S4 yarıiletken filmlerinin X-ışını kırınım desenleri — AJindex