Dergiler / Tekstil Maraton / 2005 / Cilt: 15 - Sayı: 78

Yeni bir kompakt çekim sisteminin geliştirilmesi-Bölüm III

Peter ARTZT

Sayfa
28–44
DOI
—

Özet

Kompakt ipliklerde büküm (yakl. 10-20 $alpha m$ oranında) azaltabilmektedir. Karışım ipliklerde mukavemet yükselmesi çok düşüktür, iplik tüylenmesi her durumda hammaddeden bağımsız olarak azalmaktadır. Burada büküm katsayısı, iplik düzgünsüzlük ve imperfeksiyon değerlerini kesinlikle etkilememektedir.

Abstract

Yabancı Öz Yok